2021-11-25

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芯片接觸角檢測(cè)儀和傳統(tǒng)測(cè)量方法的對(duì)比

時(shí)間:2021-11-25     來(lái)源:www.pkegour.cn         瀏覽:1451次
  芯片接觸角檢測(cè)儀用于測(cè)試液體對(duì)固體的浸潤(rùn)性,即各種液體對(duì)各種固體材料所形成的接觸角的大小判斷其浸潤(rùn)水性。方法是在一固體水平平面上滴一液滴,測(cè)試固體表面上的固—液—氣三相交界點(diǎn)處,其氣—液界面和固—液界面兩切線把液相夾在其中所成的角即為接觸角。
 
  接觸角是指在氣、液、固三相交點(diǎn)處所作的氣-液界面的切線,此切線在液體一方的與固-液交界線之間的夾角θ,是衡量該液體對(duì)材料表面潤(rùn)濕性能的重要參數(shù)。若θ<90°,則固體表面是親水性的,即液體較易潤(rùn)濕固體,其角越小,表示潤(rùn)濕性越好;若θ>90°,則固體表面是疏水性的,即液體不容易潤(rùn)濕固體,容易在表面上移動(dòng)。
 
  傳統(tǒng)的測(cè)量液體在固體表面的接觸角一般有二種方法:天平稱量法和光學(xué)法。
 
  1、天平稱量法是間接測(cè)量法,這一方法只適用于幾何形狀規(guī)則的固體表面(如圓柱體和長(zhǎng)方形薄板),而且測(cè)量的也只能是整個(gè)接觸周邊表面上的平均接觸角值,不能只限于測(cè)量其中的一個(gè)面。
 
  2、光學(xué)法是建立在直接觀測(cè)液滴在固體表面的接觸界面的測(cè)量法,是一種直接測(cè)量法。它幾乎不受固體表面幾何形狀和尺寸的限制,適用性廣,測(cè)量模式眾多,而且測(cè)量多可在與實(shí)際應(yīng)用相同或相似的條件下進(jìn)行。
 
  接觸角測(cè)量不僅可用于常見的材料表面性能的表征,而且在石油工業(yè)、浮選工業(yè)、醫(yī)藥材料、芯片產(chǎn)業(yè)、低表面能無(wú)毒防污材料、油墨、化妝品、農(nóng)藥、印染、造紙、織物整理、洗滌劑、噴涂、污水處等領(lǐng)域也有著重要的應(yīng)用。
 
  傳統(tǒng)的測(cè)量方法并不方便,而且局限性大,芯片接觸角檢測(cè)儀則可以解決以上的問(wèn)題,芯片接觸角檢測(cè)儀可選用以下兩種方法測(cè)量:
 
  1、θ/2法:通過(guò)移動(dòng)曲線尺,然后左旋是計(jì)算的是左接觸角,右旋計(jì)算的是右接觸角。
 
  2、量高法:凍結(jié)圖片后,按順序用鼠標(biāo)左鍵點(diǎn)擊液滴的左、右端和液滴頂端。如圖所示,結(jié)果自動(dòng)計(jì)算并顯示。(如需快速分析,可直接測(cè)量,無(wú)須凍結(jié)圖象)。如點(diǎn)擊有誤差,可點(diǎn)擊鼠標(biāo)右鍵,取消選定,重新測(cè)算。
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